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荧光法残氧仪

2019/8/10 18:37:24发布847次查看

型号:x-325i
x-325i是一款常用于制药行业集顶空残氧/溶解氧的多功能分析仪。这款设备是基于光学感应的荧光衰减法检测原理,顶空分析过程不对样品进行采样,对顶空样气体积及顶空条件(如负压)无要求,最小样气量仅需0.1ml即可完成精准分析。有别于传统方法 诸如电化学、氧化锆等对样气量、顶空条件(负压)有要求的采样分析方式。
使用荧光法特质的荧光贴片oxydot ,可以实现无损检测分析,应用于长期的包装稳定性研究。也可应用于溶液配液罐顶空残氧分析。
荧光法残氧仪原理
荧光检测原理:氧分子和荧光贴片中的荧光物质接触后,使得荧光物质发射的荧光信号减弱。信号衰减程度和氧含量成正比。
荧光物质通常是直径约5mm的荧光贴片, 可以提前置入包装容器或采集漏斗中。或是将荧光物质安置在取样针头内,通过针头刺入包装分析。实现多样式分析。
荧光法残氧仪特点
(适用于制药 输液瓶、西林瓶、安瓿瓶及食品饮料瓶罐包装等行业顶空残氧/溶氧测试应用)
适用于任意顶空条件,最少只需0.1ml样气量
适用于负压条件
可实现对顶空氧气及液体溶氧同时分析检测
操作简单,一键测量
自动描画数据随时间变化曲线
无限数据存储、pdf或excel格式导出或打印内置温度和压力补偿
支持连续测量模式
传感器免维护,无需更换
针头可长期重复使用,更换成本低

上海众林机电设备有限公司
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